La caracterización
de materiales es uno de los pilares que sostiene el auge
en el desarrollo de nuevas tecnologías y nuevos materiales.
En virtud de que muchas de estas nuevas tecnologías
están basadas en propiedades de superficie de sólidos,
las técnicas de estudio de superficies cumplen un
papel primordial en la Ciencia de Materiales.
Además de las propiedades básicas
como estructura, morfología, textura, color o propiedades
mecánicas, cobran gran importancia en esta revolución
tecnológica las propiedades electrónicas,
fotoelectrónicas y las propiedades químicas
de las superficies, las que han llevado a la invención
de sensores, dispositivos electrónicos de orden
nanométrico, de superficies antibacteriales, fotocrómicas,
magnéticas o autolimpiables.
En la Sesión de Caracterización
se invita a participar con trabajos en cualquiera de las
áreas de materiales en que el estudio de las propiedades
de superficie sea fundamental, ya sea que se trate de
utilizar Microscopia de Fuerza Atómica, Espectroscopia
Fotoelectrónica de Rayos X, Microscopia Electrónica
de Barrido, Termodesorción Programada de moléculas
sonda u otras técnicas para el estudio de propiedades
de superficies, o bien de describir resultados obtenidos
en la síntesis y caracterización superficies
de interés como películas de alta dureza,
magnéticas, optoelectrónicas, fotocatalíticas,
sensores entre otras.
En este marco de efervescencia tecnológica,
la presencia de Metrología es obligada, ya que
por ejemplo, al avanzar la tecnología hacia productos
basados en materiales nanoestructurados, la incertidumbre
y la exactitud de las mediciones pasan a un primer plano
en importancia. Las unidades utilizadas para caracterizar
estos nuevos materiales son del orden nanométrico
y debe evitarse que las fuentes de error en las mediciones
lleguen a ser tan grandes que impidan el estudio de estos
materiales, así que trazabilidad, precisión
e incertidumbre deben ser ya términos de uso común
entre los investigadores de la ciencia de superficies.
La Sesión de Caracterización
y Metrología permitirá enriquecer la visión
de los asistentes al atender un evento multidisciplinario
que permite ver a través de la óptica de
los diferentes participantes, un mismo tema como es el
estudio de las propiedades de superficie de los materiales.